高分子橋架發(fā)生故障時的判斷方法
來源：www.qdwonson.com
發(fā)布時間：
（1）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻，或芯與芯之間絕緣電阻低于100Ω時，為低電阻接地或短路故障。
（2）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻，或芯與芯之間絕緣電阻低于正常值很多，但高于100Ω時，為高電阻接地故障。
（3）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻較高或正常，應進行導體連續(xù)性試驗，檢查南京高分子橋架是否有斷線，若有即為斷線故障。
（4）當搖測電纜有一芯或幾芯導體不連續(xù)，且經(jīng)電阻接地時，為斷線并接地故障。
（5）閃絡(luò)性故障多發(fā)生于預防性耐壓試驗，發(fā)生部位大多在電纜終端和中間接頭。閃絡(luò)有時會連續(xù)多次發(fā)生，每次間隔幾秒至幾分鐘。